紅外線氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)**體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。

１．比爾定律 
    紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無限薄的平面．強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律) 
式中：I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度；
          I0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度；
          K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)； 
          C--待分析組分的氣體濃度；
          L--氣室長度(赦測(cè)氣體層的厚度)

２．分析檢測(cè)原理
      紅外線氣體分析儀由兩個(gè)獨(dú)立的光源分別產(chǎn)生兩束紅外線，該射線束分別經(jīng)過調(diào)制器，成為5Hz的射線。根據(jù)實(shí)際需要，射線可通過一濾光鏡減少背景氣體中其它吸收紅外線的氣體組分的干擾。